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可在8个点上同时进行测量。 |
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E3-CMOS 影像传感器提供稳定的测量 |
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Quatro连接系统可实现同类中最高的取样速度，达到3.8ms。 |
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3.8ms的高速取样速度，F.S.的0.1％的高精度 |
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简单设置菜单 (同类最快) | | |
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超快的速度: 392kHz |
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超高的精度: ±0.02% |
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超高的重复性: 0.01μm |
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全新开发的“ABLE II” 控制 | | |
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世界最快的采样速度：50kHz |
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业界最高的精确度：±0.03%(LK-G10/15) |
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同类中最高的分辨率：0.01µm |
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多功能控制器 |
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简单易用的菜单式软件 | | |
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直线性达到F.S.之±0.1％（所有型式） |
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长测量距离达到750mm（LK长距离系列）* |
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测量不受色彩、表面材质或离散光线所影响 | | |
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0.01 µm 的解析度 |
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线性度: F.S. 的 ±0.05% |
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12 µm 光点直径 |
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50 kHz 取样率 | | |
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多路数字线性器 |
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高通与低通过滤器 |
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10种不同的测量模式 |
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RS-232接口(RD-50R) | | |
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球面玻璃镜头减少了光学像差 |
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400 mm 的测量距离 |
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对黑色的和金属的目标物高度精确测量 |
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ARC 控制系统 | | | |
